高低溫試驗箱主要是用于對電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進行高溫、低溫及高低溫漸變的試驗箱，可供產(chǎn)品設(shè)計、鑒定及出廠檢驗用。適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A：低溫試驗方法，試驗B：高溫試驗方法》對產(chǎn)品進行低溫、高溫試驗及恒定溫熱試驗。產(chǎn)品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標準。
試驗箱在高溫及低溫進的溫度均勻度應(yīng)不大于2.0℃。
試驗箱的溫度波動度高溫時不大于±0.5℃；低溫時不大于±1.0℃。
高低溫試驗箱工作室內(nèi)壁溫度與空間溫度之差，在高溫下應(yīng)不大于試驗箱溫度的3％，在低溫下應(yīng)不超過8％.
試驗箱在滿載條件下，每5min的平均升溫和降溫速率等級為：不大于1℃/min、1±0.2℃/min、3±0.6℃/min、5±1℃/min.
在高溫條件下，工作空間內(nèi)的絕對濕度應(yīng)不大于20g/m3(相當于35℃時，相對濕度為50％)。
工作空間內(nèi)的內(nèi)速應(yīng)可調(diào)。
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